推廣合作

工業自動化測試儀器-數位向量儀

 Automatic Industrial Instrumentation-Digital Pattern Instrument


數位向量儀與客製化模組儀

技術簡介

數位向量儀是工研院資通所-電路與系統設計技術開發部自行研發,採用FPGA(測試向量控制與處理)+ Pin Driver (類比晶片)的架構,提供PCI Express/PXI Express介面之數位向量收發測試模組。
數位向量儀具備200Mhz向量收發速度與256M向量深度,透過驅動程式與應用軟體(API or GUI)可進行測試向量編輯、時序選擇、Pin Electronic設定、掃描測試與訊號偵錯;時序方面提供39ps resolution、32組時序以及on-the-fly時脈控制,其操作頻率範圍500K~200Mhz;通道的可程式化驅動能力涵蓋-2v~6v,並且皆具備精密量測單元(PMU);此外使用者可以進行多站(multi-site)測試,任一通道皆可指定任一站,以提升測試產出量。

基於數位向量儀研發,此技術可廣泛應用於其他工業自動化模組的開發與設計,模組透過高速串列通訊(PCI Express)搭配DDR3/4記憶體可提供大量資料的處理、存取,配合模組前端使用類比晶片電路設計,提供不同需求與應用,例如資料取樣、數位化儀、示波器、電源量測、電表、波形產生器應用,提供高性價比國產化儀器設備。

技術特色

數位向量儀

  • 200Mhz 向量收發速度
  • 操作時脈500Khz ~ 200Mhz, 提供39ps精準度調整時序
  • 輸出/入-2v ~ 6V, 涵蓋per-pin PMU
  • 提供any-pin to any-site的多站式(multi-site)功能,
  • 搭配軟體驅動程式與使用者開發環境(API),使用者圖形化介面(GUI)
  • 時序量測涵蓋週期、傳輸延遲、上升/下降時間
  • 易於商用電腦與工業電腦安裝

客製化模組儀

  • 提供PCI Express/PXI Express/VPX標準介面。
  • 可搭配不同類型FPGA晶片(ex: Xilinx、Altera)
  • 支援DDR3記憶體模組(SODIMM)
  • 具時脈同步與觸發功能

技術規格

Specification

數位向量儀

Channel Per Slot

16~32

Vector Rate(Mhz)

0.5~200

Pin Driver

-2v~-6v

PMU/PPMU

ü

Pattern Memory Depth / per ch.

256M

History Memory Depth / per ch.

256K

No. of Timing Set

32

TMU Resolution

4ch./13ps

Edge Placement Resolution

39ps

聯絡窗口

陳俊吉/通訊技術與應用推廣部
電話:03-5914465
Email:sidchen@itri.org.tw
https://www.itri.org.tw/
工研院資訊與通訊研究所